几种求取电路最小测试集算法的比较研究

• 作者: 张菲菲 王妍妍 鲁昌华
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 离散事件系统 最小测试集 算法复杂度
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 电路设计与应用
• 页码范围: 43-45,39
• 页数: 4页
• 分类号: TN707
• 字数: 3149字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2006.03.012

摘要

近年来发展的离散事件系统(DES)为数模混合电路中数字信号和模拟信号提供了一种统一的测试方法,而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点.本文阐述了目前学者提出的几种求取最小测试集算法的基本思想,分析了各算法的优缺点,并深入地比较了各个算法,通过具体实验说明了各算法的优劣性,最后指出了该学科今后的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鲁昌华		85	826	14.0	24.0
2	王妍妍		3	13	2.0	3.0
3	张菲菲		4	11	2.0	3.0