NiFe2O4/NiFeCuAlSn金属陶瓷的导电性能

• 作者: 周涛 周科朝 李志友
• 来源期刊: 粉末冶金材料科学与工程
• 关键词: NiFe2O4/NiFeCuAlSn金属陶瓷 导电性 氧化与还原
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 工艺技术
• 页码范围: 168-171
• 页数: 4页
• 分类号: TF821
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-0224.2006.03.009

摘要

对用粉末冶金法制备的几种NiFe2O4/NiFeCuAlSn金属陶瓷电阻率进行了测试与分析,结果表明:随着合金含量的增加,样品的导电性由半导体陶瓷导电性向金属导电性转变;在600～800℃温度范围内,由于样品中金属相的氧化加剧,导致导电性能下降,当金属含量为80%时,在1 000℃下金属陶瓷中金属相氧化严重,并存在NiFe2O4陶瓷相被还原的现象,电阻率大幅上升;金属陶瓷导电性能的提高取决于金属相在陶瓷中的分布形貌,网状分布的金属相能有效地提高金属陶瓷的导电性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周科朝	中南大学粉末冶金国家重点实验室	294	2609	23.0	37.0
2	李志友	中南大学粉末冶金国家重点实验室	138	1139	15.0	26.0
3	周涛	中南大学粉末冶金国家重点实验室	107	717	15.0	20.0