CRT显示器件中超大角度偏转的理论研究

• 作者: 孙远 张晓兵 李驰 王保平 苏星 雷威
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 偏转线圈 偏转角 枕形失真 光栅畸变 会聚误差
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 272-276
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.3+2
• 字数: 3123字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2006.04.004

摘要

CRT具有颜色逼真、分辨率高、技术成熟等优点,为了克服其体积大、笨重的不足,增加电子束偏转角度已经成为CRT的发展趋势.本文对超大偏转角的偏转线圈进行了理论研究,优化了线圈绕线分布和校正磁铁位置,减小光栅畸变和会聚误差.最后本文得到超大偏转线圈工作特性的理论极限.该研究结果可为超大偏转角CRT的研发提供理论指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王保平	东南大学电子工程系	70	304	9.0	13.0
2	雷威	东南大学电子工程系	89	538	12.0	18.0
3	张晓兵	东南大学电子工程系	87	746	13.0	24.0
4	苏星	东南大学电子工程系	2	1	1.0	1.0
5	孙远	东南大学电子工程系	11	55	3.0	7.0
6	李驰	东南大学电子工程系	7	58	3.0	7.0