SiO2质量浓度对Au-SiO2复合镀层结构与性能的影响

• 作者: 张鹏 王为
• 来源期刊: 电镀与精饰
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米微粒 复合镀层 SiO2粉体
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TQ153.2
• 字数: 2026字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3849.2006.03.002

摘要

采用复合电镀技术制备了Au-SiO2纳米微粒复合镀层,研究了镀液中SiO2纳米粉体的浓度对Au-SiO2纳米微粒复合镀层结构与性能的影响,并用扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDX)对复合镀层进行了表面形貌和能谱分析,使用X-射线衍射仪(XRD)测试分析了粉体对金镀层组织结构的影响.结果表明,随着镀液中SiO2浓度的增加,镀层中SiO2含量与镀层硬度随之增加,在镀液中SiO2质量浓度为15 g/L时,两者出现最大值;另外SiO2粉体的加入细化了复合镀层的结晶结构.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王为	天津大学化工学院	125	1597	22.0	34.0
2	张鹏	天津大学化工学院	49	600	14.0	23.0