用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗

• 作者: 张岷 曹柏林 郭希铭 陆文强
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 物理学
• 关键词: 红外测温仪 逸出功 发射损耗
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 实验教学
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: O462.3
• 字数: 3479字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-4642.2006.12.002

摘要

在金属电子逸出功测定实验中,未考虑由钨丝电子发射引起的损耗,存在约-1.86%的系统误差.用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化,为修正该系统误差提供直接的观察依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹柏林	天津理工大学理学院	6	42	4.0	6.0
2	张岷	天津理工大学理学院	3	29	2.0	3.0
3	郭希铭	天津师范大学物理与电子信息学院	6	29	4.0	5.0
4	陆文强	南开大学物理学院	10	29	4.0	5.0