发光二极管可靠性的噪声表征

• 作者: 包军林 周江 庄奕琪 杜磊 胡瑾
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 1/f噪声 发光二极管 陷阱 光功率
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 1384-1389
• 页数: 6页
• 分类号: O53
• 字数: 5037字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.03.065

摘要

通过对发光二极管内部结构的研究,发现Nt(界面态陷阱密度)和扩散电流比率是影响发光二极管性能的重要因素,并与器件可靠性有密切关系.器件内部存在的多种噪声中,低频1/f噪声可表征Nt和扩散电流比率.在深入研究发光二极管工作原理及1/f噪声载流子数涨落理论和迁移率涨落理论的基础上,建立了发光二极管的电性能模型及1/f噪声模型.在输入电流宽范围变化的条件下测量了器件的电学噪声,实验结果与理论模型符合良好.通过对其测量结果分析,深入研究了噪声和发光二极管性能与可靠性的关系,证明了噪声幅值越大,电流指数越接近于2,器件可靠性越差,失效率则显著增大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄奕琪	西安电子科技大学微电子学院	183	1168	15.0	22.0
2	胡瑾	西安电子科技大学技术物理学院	4	55	3.0	4.0
3	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
4	包军林	西安电子科技大学微电子学院	43	306	10.0	16.0
5	周江	西安电子科技大学技术物理学院	4	39	2.0	4.0