ICAP-AES等离子体发射光谱法测定氧化铁粉的杂质元素

• 作者: 张昊宇 张芳芳
• 来源期刊: 首钢科技
• 关键词: 光谱仪 CID检测器 等离子体 氧化铁
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

介绍了ICP等离子体光谱仪的原理及测定高纯氧化铁中铝、钙、硫、钾、镁、锰、钠和钛等8种杂质元素的分析方法,考察了样品的溶解方案及工作曲线的选择,确定了仪器最佳工作条件和方法检出限.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张昊宇		1	0	0.0	0.0
2	张芳芳		1	0	0.0	0.0