温度、pH和Cl-浓度对NiTi形状记忆合金电化学行为的影响

• 作者: 李年杏 柯伟 王俭秋 韩恩厚
• 来源期刊: 中国腐蚀与防护学报
• 学科: 工学
• 关键词: NiTi形状记忆合金 动电位扫描 正交试验法 生物相容性
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 202-206
• 页数: 5页
• 分类号: TG172
• 字数: 3569字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-4537.2006.04.003

摘要

通过正交试验法,采用动电位扫描技术研究了温度、pH和Cl-浓度对NiTi形状记忆合金在模拟口腔溶液中电化学行为的影响.结果表明温度、pH和Cl-浓度对NiTi的点蚀行为都有较大影响.溶液温度为25℃时点蚀电位最负,随着温度的升高,点蚀电位逐渐升高.溶液中的Cl-浓度很低时(不超过0.1 mol/L)点蚀电位较高,随着Cl-浓度的增加,点蚀电位急剧下降.当溶液的pH为6.0时,点蚀电位最高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩恩厚	中国科学院金属研究所材料环境腐蚀试验研究中心	206	4305	30.0	59.0
2	王俭秋	中国科学院金属研究所材料环境腐蚀试验研究中心	54	346	11.0	18.0
3	柯伟	中国科学院金属研究所材料环境腐蚀试验研究中心	188	3932	30.0	58.0
4	李年杏	中国科学院金属研究所材料环境腐蚀试验研究中心	1	3	1.0	1.0