浅谈继电器的寿命试验

• 作者: 王水君 郑天丕
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命试验 负载 激励 失效率
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 28-37
• 页数: 10页
• 分类号: TM58
• 字数: 8615字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2006.02.008

摘要

谈及继电器寿命试验时应注意的问题,特别是负载接法、激励要求、失效判据及应力公差,提出非本身引起的失效的产品替代方法.同时还指出利用试验数据确定产品寿命及其失效率的方法:对于贯GJB的产品,提出了手头无χ2分布函数表时的计算公式;对于贯GB/T的产品,阐述了在按威布尔函数求可靠性参数时试验数据若不能回归成一条直线,切勿用位置参数γ修正为一条直线的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑天丕		33	53	5.0	6.0
2	王水君		6	19	2.0	4.0