用滑动短路器法测量馈源的衰减

• 作者: 柯树人
• 来源期刊: 测控与通信
• 学科: 工学
• 关键词: 微波衰减测量 散射矩阵
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 12-13,39
• 页数: 3页
• 分类号: TN818
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柯树人		19	0	0.0	0.0