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摘要:
提出几种提高红外电路故障诊断仪诊断有源低热器件能力的新方法.这几种方法主要是通过增大元器件耗散功率和表面发射率来实现的.理论分析和实践结果都表明,本文所提出的方法能有效地改善有源低热器件的红外热图像.混和信号激励法能明显增大三极管放大电路耗散功率,特别是第一级耗散功率;增频激励法能有效提高IC耗散功率;表面漫射法能有效增大元器件的发射系数.这三种方法有效地提高了元器件的温度和发射系数,从而增强了元器件的辐射度或明显改善了它们的热图像.
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关键词云
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文献信息
篇名 有源低热器件红外热图像增强新方法
来源期刊 光电工程 学科 工学
关键词 红外技术 红外热成像 故障诊断 功率耗散
年,卷(期) 2006,(2) 所属期刊栏目 图像与信号处理
研究方向 页码范围 98-101
页数 4页 分类号 TN219
字数 2165字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.02.025
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴云峰 电子科技大学光电信息学院 106 653 13.0 18.0
2 叶玉堂 电子科技大学光电信息学院 170 1471 17.0 30.0
3 方亮 电子科技大学光电信息学院 17 144 7.0 11.0
4 成志强 电子科技大学光电信息学院 7 63 5.0 7.0
5 唐浩 电子科技大学光电信息学院 4 8 2.0 2.0
6 刘学智 电子科技大学光电信息学院 5 11 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
红外技术
红外热成像
故障诊断
功率耗散
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电工程
月刊
1003-501X
51-1346/O4
大16开
四川省成都市双流350信箱
1974
chi
出版文献量(篇)
4776
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