有源低热器件红外热图像增强新方法

• 作者: 刘学智 叶玉堂 吴云峰 唐浩 成志强 方亮
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 红外技术 红外热成像 故障诊断 功率耗散
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 图像与信号处理
• 页码范围: 98-101
• 页数: 4页
• 分类号: TN219
• 字数: 2165字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.02.025

摘要

提出几种提高红外电路故障诊断仪诊断有源低热器件能力的新方法.这几种方法主要是通过增大元器件耗散功率和表面发射率来实现的.理论分析和实践结果都表明,本文所提出的方法能有效地改善有源低热器件的红外热图像.混和信号激励法能明显增大三极管放大电路耗散功率,特别是第一级耗散功率;增频激励法能有效提高IC耗散功率;表面漫射法能有效增大元器件的发射系数.这三种方法有效地提高了元器件的温度和发射系数,从而增强了元器件的辐射度或明显改善了它们的热图像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴云峰	电子科技大学光电信息学院	106	653	13.0	18.0
2	叶玉堂	电子科技大学光电信息学院	170	1471	17.0	30.0
3	方亮	电子科技大学光电信息学院	17	144	7.0	11.0
4	成志强	电子科技大学光电信息学院	7	63	5.0	7.0
5	唐浩	电子科技大学光电信息学院	4	8	2.0	2.0
6	刘学智	电子科技大学光电信息学院	5	11	2.0	3.0