积分时间和工作电压对焦平面探测器性能的影响

• 作者: 傅跃农 林磊 王巍 郭强 龚启兵
• 来源期刊: 航空兵器
• 学科: 工学
• 关键词: CTIA 读出电路 焦平面阵列 Insb
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 雷达与电子技术
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TJ7
• 字数: 2338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5048.2006.02.010

摘要

测试了采用某CTIA型读出电路的128元InSb焦平面探测器在不同积分时间和工作电压情况下的特性,分析了实验中遇到的一些现象,得到了使焦平面探测器综合性能较高的积分时间和工作电压的取值区间,为设计CTIA型读出电路提供了参考依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王巍		15	76	5.0	8.0
2	龚启兵		7	33	4.0	5.0
3	林磊		2	19	2.0	2.0
4	傅跃农		4	31	3.0	4.0
5	郭强		1	13	1.0	1.0