基于最优模型残差的指纹方向校正法

• 作者: 徐东霞 李见为 王旭初 陈为民
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 指纹识别 方向场 指纹模型 残差
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 模式识别
• 页码范围: 26-31,84
• 页数: 7页
• 分类号: TP391
• 字数: 3015字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.08.006

摘要

指纹的方向信息是指纹图像处理中非常重要的信息,指纹方向场的获取以及校正直接影响指纹自动识别的性能.本文提出了一种基于指纹方向场数学模型的方向校正方法,根据指纹中的奇异点性质和分布,建立起与对应指纹方向场的最优方向场模型;然后,根据模型与实际指纹方向场的残差对指纹方向进行校正.由于算法利用指纹整体的拓扑信息对指纹噪声方向进行校正,具有很强的抗干扰能力,较适合劣质指纹图像处理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李见为	重庆大学国家教育部光电技术及系统重点实验室	93	1608	21.0	37.0
2	陈为民	重庆大学国家教育部光电技术及系统重点实验室	8	65	4.0	8.0
4	王旭初	重庆大学国家教育部光电技术及系统重点实验室	17	106	6.0	10.0
7	徐东霞	重庆大学国家教育部光电技术及系统重点实验室	1	6	1.0	1.0