用方位密度成像测井资料计算水平井钻遇地层倾角的方法

• 作者: 宋帆 尹国庆 郑光辉 郑新华 阎爽
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 随钻测井 方位密度成像 水平井 地层倾角 图形解析
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 方法研究
• 页码范围: 116-118
• 页数: 3页
• 分类号: TE927.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2006.02.005

摘要

Schlumberger公司的随钻方位密度测井(ADN)可以提供井周16个方位的密度成像资料,为过井眼的地质界面产状的计算提供了方便.对于垂直井或大斜井,当井眼穿过一个有明显电测响应变化的地质界面时,利用井壁成像资料可以方便地描述地质界面的产状;对于水平井,由于井眼轨迹基本与地层平行,井眼轨迹常常只能穿越地层界面.传统的对界面产状的描述方法已不再适用.提出了一种利用方位密度成像测井计算水平井井旁地层产状的方法.希望随着测井新技术的出现不断完善新的解释方法,以提高随钻方位密度测井的使用范围和精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑光辉		1	6	1.0	1.0