静电放电对无绳电话充电接触失效的影响

• 作者: 刘欣 叶勤 唐振方 彭舒
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 静电放电 充电接触 电弧侵蚀 碳沉积 失效机理
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 15-17,50
• 页数: 4页
• 分类号: TM501+.3
• 字数: 2857字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2006.03.004

摘要

进行高压静电条件下的加速失效模拟实验,测量无绳电话充电接触失效循环寿命,证实人体静电放电对充电电极寿命的影响.通过扫描电子显微镜观察触头显微形态和进行表面元素成分的半定量分析,从理论上研究充电接触失效的微观过程和作用机理.研究结论对合理选择电极材料、进行表面处理和防护以及改进电极组件设计具有参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶勤	暨南大学物理系	37	351	11.0	16.0
2	唐振方	暨南大学物理系	48	418	11.0	18.0
3	刘欣	暨南大学物理系	10	41	4.0	6.0
4	彭舒	暨南大学物理系	8	37	3.0	6.0