单片机测控系统的抗干扰分析

• 作者: 王绍军
• 来源期刊: 青海科技
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 测控系统 干扰源 抑制
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 74-76
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 2755字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9393.2006.06.030

摘要

本文阐述了工业现场干扰的主要来源种类和对单片机测控系统的影响,从硬件方面提出了抗干扰的具体措施.