镀层厚度的X射线衍射法测量

• 作者: 任勤 周上祺 李志海 李聪 石泉 邱绍宇
• 来源期刊: 核动力工程
• 关键词: 镀层厚度 X射线衍射 无损测量 化学镀
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 燃料与材料
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.22
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0926.2006.03.010

摘要

用基体X射线衍射法测量了化学镀Ni-P合金的镀层厚度,并进行了误差分析.结果表明,基体X射线衍射法是一种精确度较高的镀层厚度无损测量法,在其适用的范围之内,能客观准确地测量出镀层厚度,误差小于金相法测量误差;基体X射线衍射法的测量结果,几乎不受基体表面镀层结晶状态的影响,可以用来测量晶态或非晶态镀层厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李聪		49	401	12.0	16.0
2	邱绍宇		97	606	12.0	17.0
3	周上祺	重庆大学材料科学与工程学院	85	912	16.0	27.0
4	任勤	重庆大学材料科学与工程学院	25	286	10.0	16.0
5	李志海	重庆大学材料科学与工程学院	2	17	2.0	2.0
6	石泉	重庆大学材料科学与工程学院	4	18	2.0	4.0