1.06μm连续激光辐照TiO2/SiO2薄膜元件的损伤效应研究

• 作者: 周维军 张大勇 桂元珍 江继军 袁永华
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 连续激光 薄膜 热效应 损伤效应
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 材料和元件
• 页码范围: 76-77,81
• 页数: 3页
• 分类号: O484.5
• 字数: 1268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2006.01.008

摘要

用1.06μm连续激光辐照TiO2/SiO2薄膜元件,在不同强度下测量了激光辐照TiO2/SiO2薄膜元件引起反射信号幅度随时间的变化,并观察到薄膜从基体材料表面起泡、膜层脱落的现象.研究结果表明,TiO2/SiO2薄膜的反射光信号变化是连续激光辐照薄膜元件产生的热效应引起的;在激光辐照过程中,薄膜元件基体材料产生的热变形差别是基体起泡、脱落的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周维军	中国工程物理研究院流体物理研究所	18	87	7.0	8.0
2	袁永华	中国工程物理研究院流体物理研究所	17	99	6.0	9.0
3	张大勇	中国工程物理研究院流体物理研究所	62	225	7.0	12.0
4	桂元珍	中国工程物理研究院流体物理研究所	5	43	4.0	5.0
5	江继军	中国工程物理研究院流体物理研究所	9	90	5.0	9.0