高加速应力试验及极限应力试验综述

• 作者: 恩云飞 李斌 来萍 杨春虹 王茂菊
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 高加速应力试验 极限应力试验 高加速寿命试验 高加速应力筛选
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 31-34,38
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 4185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.10.008

摘要

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(1imit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等.指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李斌	华南理工大学物理学院	128	542	12.0	17.0
2	恩云飞		12	57	5.0	7.0
3	来萍		4	10	1.0	3.0
4	王茂菊	华南理工大学物理学院	2	14	2.0	2.0
5	杨春虹	华南理工大学物理学院	1	8	1.0	1.0