X荧光光谱仪

• 来源期刊: 光学精密机械
• 学科: 工学
• 关键词: X荧光光谱仪 国外技术 电子产品 分析设备 研发成功 自主创新 民营企业 显示技术 X系列 开发者
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 14
• 页数: 1页
• 分类号: TH744.16

摘要

长波色散X荧光分析设备被国外技术强国垄断达20多年的局面，被我国民营企业自主创新研发成功的BX系列X荧光光谱仪打破。日前，在深圳举行的全国电子产品展上，X荧光光谱仪引起参会客商的关注。该技术开发者之一的白友兆博士称，该产品采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。