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摘要:
介绍了用横向放大率法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法,该方法采用线阵光电耦合器件(CCD)测量物经光学系统成像的横向放大率,进一步提高了测量精度.
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文献信息
篇名 横向放大率法测定光具组的基点
来源期刊 大学物理 学科 物理学
关键词 光具组 基点:横向放大率
年,卷(期) 2006,(8) 所属期刊栏目 物理实验
研究方向 页码范围 40-41
页数 2页 分类号 O4
字数 990字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0712.2006.08.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘竹琴 延安大学物理与电子信息学院 136 504 12.0 19.0
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研究主题发展历程
节点文献
光具组
基点:横向放大率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
大学物理
月刊
1000-0712
11-1910/O4
大16开
北京师范大学院内《大学物理》编辑部
82-320
1982
chi
出版文献量(篇)
4693
总下载数(次)
19
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