固体含量对聚酰亚胺/二氧化硅杂化薄膜热性能的影响

• 作者: 张明艳 曾恕金 牛颖 董铁权
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺 二氧化硅 溶胶-凝胶 纳米杂化 耐热性
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 35-37,41
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.3|TQ323.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2006.06.011

摘要

利用正硅酸乙酯(TEOS)做为无机前驱体,采用溶胶-凝胶(Sol-Gel)法,制备了SiO2含量一定,固体含量不同的聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO2)纳米杂化薄膜.采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)、原子力显微镜(AFM)、热重分析(TGA)等方法研究了杂化薄膜的结构与性能.AFM分析显示:SiO2粒子均匀分散在PI树脂中.随固体含量增加,SiO2粒子的平均粒径变大,有机相与无机相的界面变清晰;当固体含量为20%(质量分数)时,两相出现明显的相分离.TGA结果表明:引入一定含量的SiO2,有助于提高PI/SiO2纳米杂化薄膜的热稳定性;当固体含量高时,杂化薄膜的热稳定性下降.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明艳	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	65	507	13.0	18.0
2	董铁权	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	3	39	3.0	3.0
3	曾恕金	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	4	55	4.0	4.0
4	牛颖	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	3	33	3.0	3.0