最小相关度的多捕获(Multi-capture)扫描测试结构

• 作者: 凌明 杨军 桑伟伟
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 多捕获(Multi-capture)测试 扫描链 最小相关度
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 148-152
• 页数: 5页
• 分类号: TN45
• 字数: 4057字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2006.05.031

摘要

为了压缩测试向量并降低芯片测试成本,本文提出了一种新的基于最小相关度扫描链的多捕获(Multi-capture)测试结构.通过构建具有最小相关度扫描链,使得多捕获测试在保证高故障覆盖率的同时降低所需ATE的存储容量.本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法.采用ISCAS'89基准电路的实验结果表明本文提出的结构和算法可以获得最高近90%的测试压缩比(大电路).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	凌明	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	76	344	10.0	14.0
3	桑伟伟	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	3	8	2.0	2.0