厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰

• 作者: 侯翠群
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 厚膜混合集成电路 失效分析 失效机理 缺陷产品 筛选淘汰机制
• 年，卷（期）: jcdltx_2006,（1）
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 分类号: TN452

摘要

介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序，总结了在生产与使用中发现的主要失效模式，对失效机理进行了研究，提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯翠群		3	0	0.0	0.0