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摘要:
随着电子封装集成度的不断提高,集成电路的功率容量和发热量也越来越高,封装体内就产生了越来越多的温度分布以及热应力问题.文章建立了基板-粘结层-硅芯片热应力分析有限元模型,利用有限元法分析了芯片/基板的热应力分布,封装体的几何结构参数对应力的影响,重点讨论了芯片与粘结层界面上和基板与粘结层界面上的层间应力分布.
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关键词云
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文献信息
篇名 封装中的界面热应力分析
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 金刚石基板 有限元法 热应力
年,卷(期) 2006,(8) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 23-25,32
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 1959字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.08.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢扩军 电子科技大学物理电子学院 25 218 7.0 14.0
2 朱琳 电子科技大学物理电子学院 11 125 6.0 11.0
3 蒋长顺 电子科技大学物理电子学院 3 65 3.0 3.0
4 许海峰 电子科技大学物理电子学院 2 62 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
金刚石基板
有限元法
热应力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
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9543
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