电荷耦合器件型折射率测定仪的研制

• 作者: 孙文光 章昌奕 马宁生
• 来源期刊: 同济大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 折射率 线阵电荷耦合器件 位移测量
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 基础科学
• 页码范围: 981-984
• 页数: 4页
• 分类号: O435.1
• 字数: 3115字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-374X.2006.07.027

摘要

基于折射定律设计光路,利用线阵电荷耦合器件(CCD)对光斑位移进行检测,研制成功小型的能够测量透明介质折射率的仪器,设计的测量折射率的范围显著增加.介绍了该仪器设计的基本原理、使用方法,并通过对一些材料折射率的测量,证明其具有较高的测量准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马宁生	同济大学物理系	33	115	7.0	9.0
2	章昌奕	同济大学物理系	11	36	4.0	5.0
3	孙文光	同济大学物理系	8	21	2.0	4.0