SoC可测性设计中的几个问题

• 作者: 罗岚 胡晨 金志刚
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 可测性设计 扫描 内建自测试 片上系统
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 87-89
• 页数: 3页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.05.040

摘要

介绍了SoC可测性设计中的几个重要问题.包括在一般功能模块的扫描可测性设计中,如何实现对时钟、复位端、双向端口、芯片内部三态总线的控制,如何处理组合反馈环、锁存器、不同时钟沿触发的触发器、影子逻辑;以及在片上存储器内建自测试设计中,如何选择自测试的结构和算法.并结合一款基于ARM的SoC给出了实际可测性设计中具体的解决方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晨	东南大学国家专用集成电路系统工程研究中心	72	709	14.0	24.0
2	罗岚	东南大学国家专用集成电路系统工程研究中心	27	260	10.0	14.0
3	金志刚	东南大学国家专用集成电路系统工程研究中心	1	6	1.0	1.0