用原子力显微镜观察薄带断面的实验方法

• 作者: 吴文慧 吴锋民 方允樟 施方也
• 来源期刊: 浙江师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: AFM 薄带 断面 介观结构
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 42-46
• 页数: 5页
• 分类号: TB303
• 字数: 2977字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5051.2006.01.008

摘要

介绍了用原子力显微镜(AFM)观察厚度为几十μm的薄带断口形貌的实验方法.其主要技术是利用AFM的反馈系统来寻找μm量级的断面,从而实现薄带断口形貌的分析.将利用该方法得到的Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9薄带断口的AFM图像与其通常的薄带表面的AFM图像进行比较,发现通过断口的AFM形貌观测可获得不同于表面观测的薄带内部结构的信息,是研究薄带介观结构的一种有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方允樟	浙江师范大学数理学院	54	148	7.0	10.0
2	吴文慧	浙江师范大学数理学院	5	13	2.0	3.0
3	施方也	浙江师范大学数理学院	10	41	3.0	6.0
4	吴锋民	浙江师范大学数理学院	30	112	6.0	9.0