厚膜电位器膜层质量控制研究

• 作者: 王万一
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 膜层 质量
• 年，卷（期）: jcdltx,（2）
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TQ171.724

摘要

本文分析了影响膜层外观质量的各种现象，探讨了产生这些现象的原因，提出了针对性的改进措施，经实践证明是切实有效的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王万一		7	0	0.0	0.0