不接触电极测试薄膜的相对电容率和介质损耗因数技术研究

• 作者: 李学敏 王先锋 罗光生
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 薄膜 相对电容率 介质损耗因数 不接触电极 静电
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 测试方法
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.3|TM206|TQ325.14
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2006.03.016

摘要

采用一种新的测试方法不接触电极测聚丙烯(PP)、聚酰亚胺(PI)薄膜的相对电容率(εr)和介质损耗因数(tanδ).对不接触电极两种测量方法可行性进行验证.对测试过程中影响介质损耗因数(tanδ)主要因素--静电进行分析,并采用两种方法消除其影响,确保测试数据准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王先锋		7	47	4.0	6.0
2	李学敏		2	8	2.0	2.0
3	罗光生		1	2	1.0	1.0