非易失存储器数据安全性研究

• 作者: 曹金玲 杨尊峰
• 来源期刊: 天津师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 非易失存储器 数据安全性 数据丢失
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 63-66
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 1548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1114.2006.02.018

摘要

在应用非易失存储器AT24C64过程中,发现丢失数据的原因是由于CPU在上电与断电过程中,欠电压导致CPU失控,输出端口产生无数个干扰脉冲,干扰脉冲的组合生成了AT24C64的有效写命令,于是破坏了AT24C64的数据.该研究从两方面采取措施:(1)使用CD4051,CD4024的组合条件来控制AT24C64的写允许门WP,如同给写允许门WP加锁;(2)采用上电与断电时电压监测电路,一旦电源电压低于4.7 V时,使CPU复位,消除CPU失控状态,以保证AT24C64的3根信号线稳定,进而保证了内部数据的安全性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹金玲		12	22	3.0	4.0
2	杨尊峰	天津大学后勤管理处	2	2	1.0	1.0