芯片测试中外接引线对电路频率特性的影响

• 作者: 朱芳 李丙旺
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 电容 电感 频率
• 年，卷（期）: jcdltx,（2）
• 页码范围: 23-25
• 页数: 3页
• 分类号: TN407

摘要

当测试集成电路的高频特性时，其外接测试引线形成的分布电容和电感常常会引起不必要的反馈和自激，增大集成电路的损耗和噪声，影响集成电路频率特性的测试结果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李丙旺		9	51	4.0	7.0
2	朱芳		1	0	0.0	0.0