高压下TiN等结构相变的第一性原理研究

• 作者: 崔田 张淼 李岩 牛英利 车立新 邹广田 马琰铭
• 来源期刊: 高压物理学报
• 关键词: 等结构相变 电子能带 声子色散关系
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 225-229
• 页数: 5页
• 分类号: O521.2|O481
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5773.2006.03.001

摘要

利用基于密度泛函理论的赝势平面波方法和线性响应理论,研究了TiN的物态方程、电子能带结构和声子色散曲线随压强的变化关系.结果表明:TiN 的电子能带结构并未随着压强的增加而出现反常,没有出现电子的拓扑结构相变;零压下出现软化的声子模式并没有随着压强的增加而继续软化.因此可以认为在0～12GPa 压强范围内,TiN 发生等结构相变的原因不是由于电子的拓扑形貌发生变化和声子软化引起的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李岩	吉林大学超硬材料国家重点实验室	108	543	12.0	21.0
2	张淼	吉林大学超硬材料国家重点实验室	23	79	4.0	8.0
3	崔田	吉林大学超硬材料国家重点实验室	28	39	4.0	5.0
4	马琰铭	吉林大学超硬材料国家重点实验室	20	15	2.0	2.0
5	车立新	白城师范学院物理系	16	26	3.0	4.0
9	牛英利	吉林大学超硬材料国家重点实验室	2	6	2.0	2.0