VLSI边界扫描测试故障诊断及其策略研究

• 作者: 倪军 徐丽红 成立 杨建宁
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG标准 边界扫描结构 测试总线 故障诊断 可测性设计
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 583-587
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3393字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.08.007

摘要

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理.实验中分析了IC故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法.该故障诊断策略通过两块xc9572 pc84芯片互连PCB板的实现方法进行验证,体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	成立	江苏大学电气与信息工程学院	168	1567	21.0	32.0
2	杨建宁	江苏大学电气与信息工程学院	38	221	9.0	13.0
3	倪军	江苏大学电气与信息工程学院	11	193	8.0	11.0
4	徐丽红	江苏大学电气与信息工程学院	2	8	2.0	2.0