重掺杂能带结构的变化对突变HBT电流影响

• 作者: 任晓敏 周守利 崔海林 黄永清
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: HBT 重掺杂效应 禁带变窄 Jain-Roulston模型
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 110-114
• 页数: 5页
• 分类号: TN302
• 字数: 2763字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.01.023

摘要

基于禁带变窄量在导带和价带之间的分布比例与掺杂浓度相关的Jain-Roulston模型,研究了重掺杂能带结构的变化对突变异质结HBT电流影响.研究表明:禁带变窄量在导、价带间分布模型选用的不同,计算结果之间有明显的差别,基于Jain-Roulston分布模型的结果同实验测量符合很好.因此对于突变HBT性能分析,必须精确考虑重掺杂禁带变窄量在能带上的具体分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄永清		196	987	13.0	18.0
2	任晓敏		189	942	13.0	18.0
3	崔海林		10	39	4.0	5.0
4	周守利		6	13	2.0	3.0