纳秒脉冲下真空绝缘沿面闪络特性实验研究

• 作者: 严萍 孙广生 谷琛 高巍
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 纳秒脉冲 闪络 特性 高真空 锥角
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TM85
• 字数: 4835字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2006.04.019

摘要

通过实验研究了纳秒脉冲(10/30 ns)下,真空绝缘沿面闪络电压随圆台形绝缘体锥角、圆柱形绝缘体截面直径、实验气压以及电极材料等物理因素的变化趋势,结果表明圆台形绝缘体锥角变化对闪络电压影响非常明显;厚度相同的圆柱形绝缘体闪络电压随截面直径的增大而降低,且直径越小,变化幅度越大;当气压处于高真空范围,即10-5～10-1Pa时,气压变化对闪络电压不构成影响;高真空条件下不同电极材料对闪络电压无影响.并在系统分析实验结果的基础上,提出了真空绝缘结构设计原则.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严萍	中国科学院电工研究所	191	2402	27.0	36.0
2	孙广生	中国科学院电工研究所	50	692	16.0	24.0
3	高巍	中国科学院电工研究所	15	111	8.0	10.0
7	谷琛	中国科学院电工研究所	4	58	4.0	4.0