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摘要:
阐述了潜通路的基本概念,说明了产生潜通路的原因及种类,并指出了它在电子系统中造成的巨大危害.简要地介绍了潜通路分析技术的应用与发展.重点介绍了潜通路的分析过程和应用线索,并通过分析具体电路对潜通路分析技术加以说明.最后展望了潜通路分析技术的应用前景.
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文献信息
篇名 电子系统的潜通路分析技术
来源期刊 光电技术应用 学科 工学
关键词 潜通路 潜在分析技术 应用线索
年,卷(期) 2006,(2) 所属期刊栏目 电路与控制
研究方向 页码范围 43-46
页数 4页 分类号 TN707
字数 3403字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1673-1255.2006.02.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 宋斌 5 32 4.0 5.0
2 张大庆 1 6 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
潜通路
潜在分析技术
应用线索
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电技术应用
双月刊
1673-1255
12-1444/TN
大16开
天津市空港经济区纬五道9号
1982
chi
出版文献量(篇)
2224
总下载数(次)
8
总被引数(次)
9885
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