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摘要:
制备CaCu3Ti4O12陶瓷,在50 K~300 K温区范围内测试试样介电性能.研究结果表明,CaCu3Ti4O12结晶完整性、晶界及缺陷对其巨介电常数的大小、出现低介电常数向高介电常数转变时对应温度的高低以及对极化粒子的温度活化响应弥散程度有直接的影响.随晶界和缺陷的下降,极化粒子受缺陷相互作用相应减弱,产生松弛时需要克服的势垒下降,对应的产生松弛的温度随之降低.材料的结晶越完整,极化粒子的温度活化响应弥散现象越小,由低到高介电常数的转变速度越快.
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文献信息
篇名 烧结温度对CaCu3Ti4O12巨介电性能的影响研究
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 工学
关键词 CaCu3Ti4O12 烧结 巨介电系数
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 技术交流
研究方向 页码范围 40-42,47
页数 4页 分类号 TB34
字数 1641字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-7126.2006.01.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杜丕一 浙江大学硅材料国家重点实验室 80 880 17.0 27.0
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研究主题发展历程
节点文献
CaCu3Ti4O12
烧结
巨介电系数
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
真空科学与技术学报
月刊
1672-7126
11-5177/TB
大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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4084
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19905
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