考虑膜厚影响薄膜磁致伸缩系数、泊松比和杨氏模量的同时测量

• 来源期刊: 固体力学学报
• 学科: 生物学
• 关键词: 薄膜-基底系统 磁致伸缩薄膜 磁致伸缩系数 泊松比 杨氏模量
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 116-120
• 页数: 5页
• 分类号: Q3
• 字数: 4011字
• 语种: 中文

摘要

基于经典层合板理论,建立了一个能同时测量薄膜-基底系统中薄膜的磁致伸缩系数、杨氏模量和泊松比的板模型.以前的研究计算薄膜磁致伸缩系数时,大多假设薄膜的弹性属性与相应的块材一致,由此导致的磁致伸缩系数计算是不准确的.在目前大多数方法中仅仅在使用一个单一的弹性各向同性基底中能够避免这个问题.该文模型在各向异性基底下同样适用,并且不要求薄膜的厚度远远小于基底厚度,因此也能够用来计算磁致伸缩应变和设计微电机械系统和生物微电机械系统.对已有的铁基非晶薄膜的实验数据,在不同磁场强度下,磁致伸缩系数的计算结果与已有模型进行了比较,它们之间的差异得到了解释.同时,还可以得到薄膜的弹性常数.