耐电晕聚酰亚胺薄膜的可靠性研究

• 作者: 刘斌 张波涛 李鸿岩 王峰 陈寿田
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 威布尔分布 耐电晕 可靠性
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 40-41,45
• 页数: 3页
• 分类号: TM207|TM215.3|TQ323.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2006.03.011

摘要

为了评价聚酰亚胺/纳米TiO2复合薄膜的耐电晕寿命,对自制的聚酰亚胺/纳米TiO2薄膜进行加速寿命试验,并对得到的实验结果用两参数Weibull分布解析法计算,得出了该薄膜在(15±3)℃,770 V、20 kHz的脉冲电压条件下的累积失效概率方程和可靠度方程等可靠性参数.Weibull假设检验结果表明,所得试验结果服从Weibull分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘斌	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	82	1223	22.0	31.0
2	陈寿田	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	95	1522	23.0	33.0
3	王峰	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	105	1002	17.0	28.0
4	李鸿岩	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	12	363	9.0	12.0
5	张波涛	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	5	14	3.0	3.0