SoC中混合信号的测试

• 作者: 何怡刚 刘全喜 刘美容 彭浴辉
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: SoC 混合信号 扫描测试 内置自测试
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 94-98
• 页数: 5页
• 分类号: TN911.23
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.03.040

摘要

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高;这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用,但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题,因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试.SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈,这对研究提出了紧迫的要求.介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题,着重讨论了混合信号边界扫描测试,内置自测试方法(BIST)等测试手段及各自的特点.展望了SoC混合信号测试的研究方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	刘美容	湖南大学电气与信息工程学院	19	291	8.0	17.0
3	彭浴辉	湖南大学电气与信息工程学院	6	14	3.0	3.0
4	刘全喜	湖南大学电气与信息工程学院	1	7	1.0	1.0