逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案

• 作者: 伍逸枫 张扬 王宁
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 测试 逻辑簇 内建自测试
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 441-443,451
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 1591字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.06.011

摘要

逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题.分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宁	空军第一航空学院航空电子工程系	8	43	3.0	6.0
2	伍逸枫	空军第一航空学院航空电子工程系	10	51	3.0	7.0
3	张扬	空军第一航空学院航空电子工程系	18	32	3.0	5.0