40 Gbit/s PIN/TIA组件光纤耦合分析与实验研究

• 作者: 丁国庆 刘兴瑶 宿志成 张学军
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦合 高斯光束 锥形光纤 楔形光纤 光响应度 紫外胶
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TN256
• 字数: 1581字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2006.03.016

摘要

文章对40 Gbit/s PIN/TIA组件的光纤耦合进行了理论分析,并进行了一些实验研究.通过使用紫外胶和精细固化方法, 进行了光纤耦合固定,使得40 Gbit/s PIN/TIA组件灵敏度达到国内领先水平.经测试,40 Gbit/s PIN光纤精细对准后的响应度可达0.65 A/W,耦合固定后的光响应度超过0.46 A/W.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁国庆		9	38	3.0	6.0
2	刘兴瑶		3	2	1.0	1.0
3	宿志成		1	0	0.0	0.0
4	张学军		1	0	0.0	0.0