烧结气氛对烧结NdFeB磁体显微结构的影响

• 作者: 冯可芹 杨刚 杨屹 郭尔奇
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 金属材料 烧结NdFeB Ar保护烧结 真空烧结 显微结构 蒸气压
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 49-51
• 页数: 3页
• 分类号: TM271
• 字数: 3307字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2006.06.016

摘要

对NdFeB合金的Ar保护烧结和真空烧结进行了对比研究.SEM显微观察发现,与Ar保护烧结的磁体相比,真空烧结磁体中的点状和块状富Nd相相对较小,且存在着明显的线状缺陷.蒸气压理论计算表明,真空烧结时烧结保温过程中Nd和添加元素Dy的饱和蒸气压均大大高于外压,因此Nd和Dy均存在着明显的挥发和烧损,这是造成真空烧结磁体中富Nd相较小以及存在着明显的线状晶界缺陷的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨屹	四川大学制造科学与工程学院	145	932	15.0	25.0
2	冯可芹	四川大学制造科学与工程学院	71	495	10.0	19.0
3	杨刚	四川大学制造科学与工程学院	109	407	10.0	16.0
4	郭尔奇	四川大学制造科学与工程学院	6	28	4.0	5.0