MC-CDMA系统在Nakagami衰落信道的载波频率偏移性能分析

• 作者: 席志红 张忠民 郭黎利
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 载波频率偏移 Nakagami衰落信道 误码率
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 574-578
• 页数: 5页
• 分类号: TN929.533
• 字数: 2789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7043.2006.04.022

摘要

多载波CDMA系统由于具有优良的抗干扰能力,已被确立为第3代移动通信的关键技术.MC-CDMA系统对同步误差非常敏感.关于MC-CDMA系统地载波偏移性能分析问题已有许多文献,但主要是基于瑞利分布的衰落信道.通过研究Nakagami-m分布的衰落信道下MC-CDMA系统载波偏移的性能分析问题,给出了等增益合并和最大比合并2种检测技术的误码率公式,并在Matlab环境下进行了仿真,仿真结果表明MC-CDMA系统对频率偏移是非常敏感的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭黎利	哈尔滨工程大学信息与通信学院	227	1481	19.0	25.0
2	张忠民	哈尔滨工程大学信息与通信学院	29	282	6.0	16.0
3	席志红	哈尔滨工程大学信息与通信学院	121	870	14.0	24.0