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五大成品率及可靠性问题的解决方案
五大成品率及可靠性问题的解决方案
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摘要：
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缺陷引起的可靠性和成品率关系研究
缺陷
可靠性
成品率
老化
半导体器件成品率的高低是产品质量与可靠性高低的"预示"
电子元器件
工艺控制
成品率
质量
可靠性
IC优化设计及其成品率预测
成品率
效益
优化设计
蒙特卡罗分析
性能综合指数
提高辅助喷嘴成品率的探讨
喷气织机
辅助喷嘴
成品率
内腔
电极参数
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集成电路应用
主办单位：
上海贝岭股份有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1674-2583
CN：
31-1325/TN
开本：
16开
出版地：
上海宜山路810号
邮发代号：
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
4823
总下载数（次）
15
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