阵列感应测井仪刻度系数特性研究

• 作者: 仵杰 刘春雅 张甜甜 王晓鹏
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 阵列感应测井 刻度系数 刻度环 几何因子
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 方法研究
• 页码范围: 400-403
• 页数: 4页
• 分类号: P631.32
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2006.05.005

摘要

刻度系数是阵列感应测井仪器的关键参数.在阵列感应测井刻度理论基础上,导出刻度系数计算公式,计算分析了短、中和长3个子阵列的刻度系数随刻度环半径及其在仪器轴向上所处位置的变化特性.结果表明,不同子阵列的特性差异较大,尤其是长子阵列,并用各子阵列的二维几何因子解释了其产生的原因.讨论了刻度环大小选择、最佳刻度点和刻度电阻确定问题.这些研究结果可用于阵列感应测井仪器刻度中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	仵杰		98	478	11.0	18.0
2	张甜甜		6	45	4.0	6.0
3	王晓鹏		3	32	3.0	3.0
4	刘春雅		3	32	3.0	3.0