基于TCG图和模拟退火算法的SoC测试调度

• 作者: 杨军 罗岚
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 可测性设计 模拟退火
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 37-43,36
• 页数: 8页
• 分类号: TN47
• 字数: 4495字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2006.05.008

摘要

为了降低系统芯片测试成本,需复用IP的测试电路和测试矢量,过去几年已经涌现了许多新型测试结构.测试包和测试轨由于其结构简单,已经广泛应用于系统芯片的测试方案中.但基于测试包和测试轨的测试调度算法复杂度很高,难以获得测试调度的最优解,从而降低了测试效率.本文提出了基于传递闭合图(Transitive Closure Graph)的测试调度表示法,该表示法符合P-admissible准则,使组合优化算法适用于SoC测试调度问题.最后本文用模拟退火算法来优化测试调度,实验结果表明此算法调度的测试时间要比报道的结果都好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	罗岚	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	27	260	10.0	14.0