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摘要:
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单晶铜键合丝的球键合性能研究
单晶铜键合丝
球键合
可靠性
键合丝随机振动应力极限仿真分析
键合丝
随机振动
极限功率谱密度
仿真分析
铜键合线的发展与面临的挑战
集成电路
铜键合线
封装
几种铜键合引线的力学性能研究
键合引线
力学性能
抗拉强度
伸长率
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 镀层方法增强铜键合丝
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2006,(9) 所属期刊栏目 封装与测试
研究方向 页码范围 45
页数 1页 分类号 TN4
字数 646字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-2583.2006.09.013
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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