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摘要:
介绍了电光采样测量系统的三大核心组成部分:超短脉冲激光光源、电光材料的采样探针以及时间扫描单元;还介绍了电光采样技术的新进展以及电光采样技术在超快器件频响评价、特定电场的描述以及太赫兹成像等领域的应用.
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文献信息
篇名 超高速电光采样技术及应用
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 电光采样技术 超短脉冲激光 电光材料
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 显微、测量、微细加工技术与设备
研究方向 页码范围 197-202
页数 6页 分类号 TN247
字数 4594字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4776.2006.04.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘庆纲 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 45 189 8.0 10.0
2 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 205 1913 21.0 33.0
3 栗大超 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 89 722 14.0 20.0
4 李敏 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 24 267 9.0 16.0
5 王璐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 14 102 6.0 10.0
6 李锁印 中国电子科技集团公司第十三研究所 27 40 3.0 5.0
7 魏泽峰 1 9 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
电光采样技术
超短脉冲激光
电光材料
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
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18-60
1964
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